PRODUCT
- 採用Texas Instrument DLP技術開發之DMD反射晶片光譜儀
- 優異的訊噪比表現,更好的量測穩定性
- 900-1700nm(無致冷)、1340-2280nm(2階致冷)两种波段供选择
- 近紅外光譜儀之最低成本機種
產品規格表
型號 | DF1514 | DF1934 |
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波長範圍 | 900-1700nm | 1340-2280nm |
狭縫寬度 | 25um | 25um |
解析度 | <12nm (Pattern Width 2.34nm) | <14nm (Pattern Width 2.34nm) |
感測器 | 1mm InGaAs PD | 2 级制冷 TEC InGaAs PD |
訊噪比 | 8000 | 7000 |
掃描模式 | Column mode / Hadamard mode | |
體積 (長x寬x高) | 71.5 x 57 x 25 mm 含控制板 | 76.7 x 60 x 40 mm 含控制板 |
光纖介⾯ | SMA905 | |
電源需求 | Micro USB 或 UART |