APPLICATION
光電檢測
★LED晶粒(封裝前)檢測設備★
◆解決方案1. 動態熱平衡技術(Dynamic Thermal Equilibrium, DTE)
在LED燈具檢測設備中，光譜量測首重溫飄穩定性。因爲環境溫溼度變動所造成的波長偏移，將影響從光譜計算而來的CIE色度與亮度(Y值)之穩定性和精度，進而大大降低LED燈具檢測參考價值。 OtO 光譜儀擁有非常優異的熱穩定性，其中溫飄穩定度足以媲美歐美大廠，僅有0.027nm/℃，Y值的變動僅±0.5%。我們獨有的動態熱平衡技術(Dynamic Thermal Equilibrium, DTE)，是在優化光學與機構系統設計下實現， 提供無溫控環境下之精確量測，取代過去龐大且昂貴的LED檢測設備，使得客戶得以在產線上廣佈檢測設備，全面確保產品品質。
◆解決方案2. 消雜散光演算法
對於LED晶粒(封裝前)檢測設備，OtO成功開發的「消雜散光演算法」，可在建立LED強度校正係數前先行扣除雜散光。雜散光經過該軟體校準後，與德國IS標準機比對晶粒亮度誤差僅R2=0.999以上，雜散光比例可從0.15%降至0.01%！ 優異一緻性與大幅提升量測準確度，更獲LED全球晶粒生產前三大廠採用。OtO緻力於以卓越的技術，將光譜儀應用到高階LED檢測系統中。
◆解決方案3. OtO獨家8種高速曝光模式
根據不同應用及情境，OtO光譜儀擷取光譜的方式大緻可分爲：1.連續/不連續 ；2. 軟件/硬件觸發;3. 相同/不同積分時間，因而可組合出8種曝光模式，最大彈性滿足使用者的量測需求。
在LED工業線上檢測，使用者需先設定「不連續 - 硬件觸發 - 相同或不同積分時間 曝光模式」，以每一個LED燈作爲硬件觸發信號，並事先在軟件上設定1000組曝光時間列表，便可依序得到這1000個LED燈的光譜數據，實現LED自動化線上檢測。
◆解決方案4. 可依需求擴充至8個GPIO！
◆推薦機種
◆其他應用