2026｜慕尼黑上海光博會｜OtO台灣超微光學 與您相見上海

📅 日期：2026 年 3 月 18 日 – 3 月 20 日

📍 地點：上海新國際博覽中心

📍 展位號碼：E7-7202

• 應用於微弱光訊號偵測、精密光譜分析及科研量測。

• 應用於設備整合、可攜式量測及嵌入式光學系統。

• 應用於長時間量測、製程監控及高穩定度光譜分析。

• 應用於半導體材料分析、深紫外光源及高能量光譜檢測。

• 應用於半導體製程、電漿（Plasma）診斷及薄膜沉積監控。

• 應用於生醫影像、材料結構分析及工業非破壞檢測。

• LIBS、VCSEL、拉曼與高精度光譜。

• 製程監控、薄膜量測、電漿光譜與晶圓分析。