2026 SPIE Optics + Photonics|Evolve Sensing × 台灣超微光學 創新光譜技術,拓展精密光學量測新視野
 | 台灣超微光學 OtO Photonics 北美獨家經銷夥伴 Evolve Sensing 將參加全球光學與光子技術盛會 SPIE Optics + Photonics 2026 ,於現場展示台灣超微光學最新光譜技術與多元光學量測解決方案,涵蓋 Deep-UV、UV-VIS-NIR、近紅外光譜、超高解析度 OCT,以及半導體光學檢測等應光譜量測解決方案。✨
深耕微型光譜技術超過二十年,台灣超微光學持續投入光學、機構、電子、韌體與軟體的整合研發,產品波段涵蓋 Deep-UV 155nm 至 NIR 2500nm,並提供從微型化、高感度、高解析度等多元光譜儀系列。
除了標準產品,我們亦具備高度客製化能力,可依據不同的波長範圍、光譜解析度、感測器、光柵、光纖介面及通訊需求進行配置,協助研究機構、OEM 客戶及工業設備製造商加速產品開發與系統整合。
本次展會將由 Evolve Sensing 團隊與您分享最新光譜感測技術,共同探索其於半導體製程與檢測、OCT、生醫光學、環境監測、材料分析及工業精密量測等領域的應用可能。🔍 |  | 展出亮點 | 💡 Deep-UV 光譜量測: 155–410 nm,適用於半導體製程監控、Plasma / OES 與 Deep-UV 檢測
💡 超高解析度 OCT: 最高 0.02 nm 光譜解析度,適用於半導體、材料與精密製造檢測
💡 寬波段近紅外光譜: 900–2500 nm 單一進光口雙波段整合,適用於半導體、農業食品與材料分析
💡 半導體與精密光學檢測: 涵蓋薄膜厚度、Plasma / OES、UV 與高解析度光譜量測
💡 地物、空氣與水質檢測: 高波長穩定性光譜量測方案,滿足環境監測與長時間穩定量測需求 | | 歡迎蒞臨 Booth 631,親自體驗創新光譜量測技術。 | | 我們期待在聖地牙哥與您相見! |
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2026-08-20