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🔸展會期間:2024年7月17日(三)-18日(四)
🔸展位號:#D-08
此次將展出半導體檢測專用系列、影像色彩輝度計、膜厚量測、等離子檢測應用等機種,全波段180-2500nm光譜儀皆會亮相